La 12.ª Exposición Internacional de Conectores, Arneses de Cables y Equipos de Procesamiento de Shenzhen se celebrará en el Centro de Convenciones y Exposiciones de Shenzhen. ICH Shenzhen se ha consolidado como un referente en la industria de procesamiento de arneses y conectores, con una visión de mercado que impulsa la competitividad industrial y promueve la producción. ¡Un desarrollo industrial saludable y sostenible!
Yongjie asistirá a la ICH Shenzhen 2023 y mostrará los principales productos comoEstación de prueba de conducción de baja tensiónLa nueva estación de pruebas de energía. También se exhibirá la estación de pruebas multifuncional para cargadores eléctricos. Esta estación puede probar el aislamiento, el cierre electrónico y la hermeticidad.
Deseamos a Yongjie un gran éxito en la exposición.
Descripción de las estaciones de prueba de Yongjie:
Banco de pruebas de alto voltaje de New Energy
Introducción de funciones:
1. Prueba de bucle común
2. Prueba de componentes que incluye resistencia, inductancia, condensador y diodo.
3. Prueba de funcionamiento de la cerradura electrónica
4. Prueba de alto voltaje de CA con salida de voltaje de hasta 5000 V
5. Prueba de alto voltaje de CC con salida de voltaje de hasta 6000 V
Banco de pruebas para montaje de bridas de baja tensión
Descripción de la función:
1. Preestablezca la posición de las bridas para cables en elarnés de cableado
2. Poder detectar bridas faltantes
3. Con detección de errores mediante identificación por color de las bridas.
4. La plataforma del banco de pruebas puede ser horizontal o inclinada para diferentes situaciones de fabricación.
5. La plataforma del banco de pruebas se puede reemplazar para diferentes situaciones de fabricación.
Estación de prueba de inducción
Las estaciones de prueba de inducción se clasifican en dos tipos según sus funciones: plataforma de guía enchufable y plataforma de prueba de guía enchufable.
1. La plataforma de guía enchufable indica al operador cómo operar según el procedimiento preestablecido con indicadores de diodos. Esto evita errores al conectar terminales.
2. La plataforma de prueba de guía de complemento completará elrealizando una pruebaal mismo tiempo que el complemento.
Hora de publicación: 25 de junio de 2025